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產(chǎn)品展示首頁 > 產(chǎn)品展示 > 電性能檢測儀器 > 介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測定儀 > 云母薄片介電常數(shù)試驗(yàn)儀

產(chǎn)品名稱:云母薄片介電常數(shù)試驗(yàn)儀

產(chǎn)品型號(hào):

產(chǎn)品報(bào)價(jià):

產(chǎn)品特點(diǎn):云母薄片介電常數(shù)試驗(yàn)儀a. 重新把測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容"兩個(gè)端上。把被測樣品夾入二極片之間,調(diào)節(jié)平板電容器,到二極片夾住樣品止,改變Q表上的主調(diào)電容容量,使Q表處于諧振點(diǎn)上,讀得Q值,記為Q2。電容讀數(shù)記為C2。

云母薄片介電常數(shù)試驗(yàn)儀的詳細(xì)資料:

云母薄片介電常數(shù)試驗(yàn)儀

. 概述

介質(zhì)損耗測試裝置可與本公司生產(chǎn)的各型號(hào)Q表配用,對(duì)絕緣材料進(jìn)行高頻介電常數(shù)和介質(zhì)損耗系數(shù)(損耗角正切值)的測試。介質(zhì)損耗測試裝置采用了帶數(shù)顯的微測量裝置,因而在測試時(shí),讀數(shù)更直觀方便,數(shù)據(jù)更精確。

. 云母薄片介電常數(shù)試驗(yàn)儀工作特性

  1. 平板電容器:

極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm   可選

極片間距可調(diào)范圍:≥15mm

2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm

3. 夾具損耗正切值≤4×104 1MHz

4.測微桿分辨率:0.001mm

. 工作原理

本測試裝置主要由一個(gè)數(shù)顯的微測量裝置和一組間距可調(diào)的平板電容器組成,平板電容器用于夾持被測材料樣品。而數(shù)顯的微測量裝置,用于顯示被測材料樣品的厚度。配用Q表作為調(diào)諧指示儀器,通過被測材料樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)材料樣品時(shí)的Q值變化,可測得絕緣材料的損耗角正切值。同時(shí),由平板電容器的刻度讀值變化而換算可得到絕緣材料介電常數(shù)。

. 使用方法

  1. 測量裝置的使用

測量裝置的正面示意圖如圖一所示。


圖一

各部件名稱:

  1. 棘輪測力(測微桿)

  2. 刻線讀數(shù)裝置

  3. 鎖緊裝置





圖二

6位數(shù)字顯示;In:英制測量模式;INC:相對(duì)測量模式;ABS:對(duì)測量模式;Set:初始值設(shè)置;        :電池電壓低報(bào)警( 電池的更換見后面五注意事項(xiàng) );    :數(shù)據(jù)輸出。

  1. 數(shù)據(jù)發(fā)送按鍵(本裝置沒有此功能)

  2. ABS /INC/UNIT按鍵:短按時(shí)(小于1秒)為ABS /INC轉(zhuǎn)換,長按時(shí)(大于1秒)為英制/公制轉(zhuǎn)換。

  3. ON/OFF/ SET按鍵:短按時(shí)為開關(guān)液晶顯示屏;長按時(shí)為初始值設(shè)置。

  4. 平板電容器極片

  5. 夾具插頭

2.被測樣品的準(zhǔn)備

被測樣品要求為圓形,直徑50.4--52mm/38.4--40mm,這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間,樣品太薄或太厚就會(huì)使測試精度下降,樣品要盡可能平直。

下面推薦一種能提高測試精確性的方法:準(zhǔn)備二片厚0.05mm的圓形錫膜,直徑和平板電容器極片*,錫膜兩面均勻地涂上一層薄薄的凡士林,它起粘著作用,又能排除接觸面之間殘余空氣,把錫膜再粘在平板電容器兩個(gè)極片上,粘好后,極片呈鏡面狀為佳,然后放上被測樣品。

3. 測試準(zhǔn)備工作

先要詳細(xì)了解配用Q表的使用方法,操作時(shí),要避免人體感應(yīng)的影響。

  1. 把配用的Q表主調(diào)諧電容置于較小電容量。

  2. 把本測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容"兩個(gè)端子上。

c.       配上和測試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈(本公司 Q表配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時(shí)電感取250uH,15MHz時(shí)電感取1.5uH。

  1. 短按ON/OFF按鍵,打開液晶顯示屏。

  2. 調(diào)節(jié)平板電容器測微桿,使平板電容器二極片相接為止,長按SET按鍵將初始值設(shè)置為0

4.介電常數(shù)Σ的測試

a.  再松開二極片,把被測樣品夾入二極片之間,調(diào)節(jié)平板電容器,到二極片夾住樣品止(注意調(diào)節(jié)時(shí)要用測微桿,以免夾得過緊或過松),這時(shí)能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值,既是樣品的厚度D2。改變Q表上的主調(diào)電容容量,使Q表處于諧振點(diǎn)上。

b.  取出平板電容器中的樣品,這時(shí)Q表又失諧,此時(shí)調(diào)節(jié)平板電容器,使Q表再回到諧振點(diǎn)上,讀取測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值記為D4

  1. 計(jì)算被測樣品的介電常數(shù):


Σ=D2 / D4


5.介質(zhì)損耗系數(shù)的測試

a. 重新把測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容"兩個(gè)端上。把被測樣品夾入二極片之間,調(diào)節(jié)平板電容器,到二極片夾住樣品止,改變Q表上的主調(diào)電容容量,使Q表處于諧振點(diǎn)上,讀得Q值,記為Q2。電容讀數(shù)記為C2。

b. 取出平板電容器中的樣品,這時(shí)Q表又失諧,再改變Q表上的主調(diào)電容容量,使Q表重新處于諧振點(diǎn)上。讀得Q值,記為Q1。電容讀數(shù)記為C1

c.  然后取下測試裝置,再改變Q表上的主調(diào)電容容量,重新使之諧振,電容讀數(shù)記為C3,此時(shí)可計(jì)算得到測試裝置的電容為CZ = C3 C1

d.  計(jì)算被測樣品的介質(zhì)損耗系數(shù)



式中:CZ為測試裝置的電容(平板電容器二極片間距為樣品的厚度D2

C0為測試電感的分布電容(參考LKI-1電感組的分布電容值)

  1. 其他應(yīng)用使用方法

使用本測試裝置和Q表配用,對(duì)絕緣材料以及其他高阻性能的薄材,例如:優(yōu)質(zhì)紙張、優(yōu)質(zhì)木材、粉壓片料等,進(jìn)行相對(duì)測量,其測試方法就非常簡便、實(shí)用,采取被測樣品和標(biāo)準(zhǔn)樣品相比較方法,就能靈敏地區(qū)別二者之間的輕微差別,例如含水量、配用原料變動(dòng)等等。

測試時(shí)先把標(biāo)準(zhǔn)樣品放入平板電容器,調(diào)節(jié)Q表主調(diào)電容,諧振后讀得Q值,再換上被測樣品,調(diào)節(jié)圓筒電位器,再諧振,看Q值變化,如Q值變化很小,說明標(biāo)準(zhǔn)樣品和被測樣品高頻損耗值*,反之說明二者性能有區(qū)別,被測樣品和標(biāo)準(zhǔn)樣品的配用原材料相差較大。

. 注意事項(xiàng)

1.              測試裝置使用結(jié)束后,請(qǐng)及時(shí)關(guān)閉液晶顯示屏的電源,可延長電池的壽命。如果電池發(fā)出電壓低報(bào)警,應(yīng)及時(shí)更換電池保證測量的精度。電池更換位置位于液晶顯示屏的被面十字蓋冒下。用工具將十字蓋冒逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)約45°,既可取下十字蓋冒,更換電池。

2.本測試裝置是由精密機(jī)械構(gòu)件組成的測微設(shè)備,所以在使用和保存時(shí)要避免振動(dòng)和碰撞,要求在不含腐蝕氣體和干燥的環(huán)境中使用和保存,用戶不能自行拆裝,否則其工作性能就不能保證,如測試夾具受到碰撞,可以送生產(chǎn)廠家定期檢查,要檢測以下幾個(gè)指標(biāo):

  1. 平板電容器二極片平行度在0-5mm間連續(xù)不超過0.05 mm。

  2. 圓筒電容器的軸和軸同心度誤差不超過0.1mm。



數(shù)顯介質(zhì)損耗測試裝置與

配合使用補(bǔ)充說明

Q表新增加了介質(zhì)損耗系數(shù)tgδ的測試功能,特增加此數(shù)顯介質(zhì)損耗測試裝置有與之配合使用補(bǔ)充說明。 Q表的介質(zhì)損耗系數(shù)tgδ的測試功能省去了人工的計(jì)算,將大大地方便介質(zhì)損耗系數(shù)tgδ的測試。有關(guān)介質(zhì)損耗測試裝置的使用可參閱數(shù)顯介質(zhì)損耗測試裝置使用說明。

使用方法

  1. 介質(zhì)損耗測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容"兩個(gè)端子上。

b.      在電感端子上插上和測試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈(本公司 Q表配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時(shí)電感取250uH,15MHz時(shí)電感取1.5uH

c.       先測出損耗測試裝置在測試狀態(tài)下的機(jī)構(gòu)電容CZ

a.  把被測樣品插入二極片之間,調(diào)節(jié)平板電容器,到二極片夾住樣品止(注意調(diào)節(jié)時(shí)要用測微桿,以免夾得過緊或過松)。 然后取出平板電容器中的樣品,

但要保持平板電容器間的間距不變。

b. 改變Q表上的主調(diào)電容容量,使Q表處于諧振點(diǎn)上;電容讀數(shù)記為C1。

c. 然后取下測試裝置,再改變Q表上的主調(diào)電容容量,重新使之諧振,電容讀數(shù)記為C3此時(shí)可計(jì)算得到測試裝置的電容為CZ = C3 C1

4.介質(zhì)損耗系數(shù)的測試

a. 重新把測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容"兩個(gè)端上。

把被測樣品插入二極片之間,改變Q表上的主調(diào)電容容量,使Q表處于諧振點(diǎn)上。然后按一次 Q表上的小數(shù)點(diǎn)(tgδ)鍵,在顯示屏上原電感顯示位置上將

顯示C0= x x x,此時(shí)可輸入分布電容值。分布電容為機(jī)構(gòu)電容CZ電感分布電容C0(參考電感的技術(shù)說明)的和。分布電容值輸入的有效位為3位,0.1pF99.9 pF,輸入時(shí)不需輸入小數(shù)點(diǎn),只需輸入3位有效數(shù)。例0.1pF,只需輸入

001;99.9pF,只需輸入999。

同時(shí),顯示屏上原CQ顯示變化為C2Q2。

b.取出平板電容器中的樣品,(保持平板電容器間的間距不變)這時(shí)Q表又失諧,再改變Q表上的主調(diào)電容容量,使Q表重新處于諧振點(diǎn)上。

c. 第二次按下 Q表上的小數(shù)點(diǎn)(tgδ)鍵,顯示屏上原C2Q2顯示變化為C1Q1,同時(shí)顯示介質(zhì)損耗系數(shù)tn =x x x x x ,即完成測試。

5.出錯(cuò)提示,當(dāng)出現(xiàn)tn =  NO 顯示時(shí),說明測試時(shí)出現(xiàn)了差錯(cuò),發(fā)生了Q1 Q2C1 C2的錯(cuò)誤情況。


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