云母薄片介電常數(shù)試驗(yàn)儀的詳細(xì)資料:
云母薄片介電常數(shù)試驗(yàn)儀
一. 概述
介質(zhì)損耗測試裝置可與本公司生產(chǎn)的各型號(hào)Q表配用,對(duì)絕緣材料進(jìn)行高頻介電常數(shù)和介質(zhì)損耗系數(shù)(損耗角正切值)的測試。介質(zhì)損耗測試裝置采用了帶數(shù)顯的微測量裝置,因而在測試時(shí),讀數(shù)更直觀方便,數(shù)據(jù)更精確。
二. 云母薄片介電常數(shù)試驗(yàn)儀工作特性
平板電容器:
極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可選
極片間距可調(diào)范圍:≥15mm
2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
4.測微桿分辨率:0.001mm
三. 工作原理
本測試裝置主要由一個(gè)數(shù)顯的微測量裝置和一組間距可調(diào)的平板電容器組成,平板電容器用于夾持被測材料樣品。而數(shù)顯的微測量裝置,用于顯示被測材料樣品的厚度。配用Q表作為調(diào)諧指示儀器,通過被測材料樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)材料樣品時(shí)的Q值變化,可測得絕緣材料的損耗角正切值。同時(shí),由平板電容器的刻度讀值變化而換算可得到絕緣材料介電常數(shù)。
四. 使用方法
測量裝置的使用
測量裝置的正面示意圖如圖一所示。
圖一
各部件名稱:
棘輪測力(測微桿)
刻線讀數(shù)裝置
鎖緊裝置
圖二
6位數(shù)字顯示;In:英制測量模式;INC:相對(duì)測量模式;ABS:對(duì)測量模式;Set:初始值設(shè)置; :電池電壓低報(bào)警( 電池的更換見后面五注意事項(xiàng) ); :數(shù)據(jù)輸出。
數(shù)據(jù)發(fā)送按鍵(本裝置沒有此功能)
ABS /INC/UNIT按鍵:短按時(shí)(小于1秒)為ABS /INC轉(zhuǎn)換,長按時(shí)(大于1秒)為英制/公制轉(zhuǎn)換。
ON/OFF/ SET按鍵:短按時(shí)為開關(guān)液晶顯示屏;長按時(shí)為初始值設(shè)置。
平板電容器極片
夾具插頭
2.被測樣品的準(zhǔn)備
被測樣品要求為圓形,直徑50.4--52mm/38.4--40mm,這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間,樣品太薄或太厚就會(huì)使測試精度下降,樣品要盡可能平直。
下面推薦一種能提高測試精確性的方法:準(zhǔn)備二片厚0.05mm的圓形錫膜,直徑和平板電容器極片*,錫膜兩面均勻地涂上一層薄薄的凡士林,它起粘著作用,又能排除接觸面之間殘余空氣,把錫膜再粘在平板電容器兩個(gè)極片上,粘好后,極片呈鏡面狀為佳,然后放上被測樣品。
3. 測試準(zhǔn)備工作
先要詳細(xì)了解配用Q表的使用方法,操作時(shí),要避免人體感應(yīng)的影響。
把配用的Q表主調(diào)諧電容置于較小電容量。
把本測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容"兩個(gè)端子上。
c. 配上和測試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈(本公司 Q表配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時(shí)電感取250uH,15MHz時(shí)電感取1.5uH。
短按ON/OFF按鍵,打開液晶顯示屏。
調(diào)節(jié)平板電容器測微桿,使平板電容器二極片相接為止,長按SET按鍵將初始值設(shè)置為0。
4.介電常數(shù)Σ的測試
a. 再松開二極片,把被測樣品夾入二極片之間,調(diào)節(jié)平板電容器,到二極片夾住樣品止(注意調(diào)節(jié)時(shí)要用測微桿,以免夾得過緊或過松),這時(shí)能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值,既是樣品的厚度D2。改變Q表上的主調(diào)電容容量,使Q表處于諧振點(diǎn)上。
b. 取出平板電容器中的樣品,這時(shí)Q表又失諧,此時(shí)調(diào)節(jié)平板電容器,使Q表再回到諧振點(diǎn)上,讀取測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值記為D4
計(jì)算被測樣品的介電常數(shù):
Σ=D2 / D4
5.介質(zhì)損耗系數(shù)的測試
a. 重新把測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容"兩個(gè)端上。把被測樣品夾入二極片之間,調(diào)節(jié)平板電容器,到二極片夾住樣品止,改變Q表上的主調(diào)電容容量,使Q表處于諧振點(diǎn)上,讀得Q值,記為Q2。電容讀數(shù)記為C2。
b. 取出平板電容器中的樣品,這時(shí)Q表又失諧,再改變Q表上的主調(diào)電容容量,使Q表重新處于諧振點(diǎn)上。讀得Q值,記為Q1。電容讀數(shù)記為C1。
c. 然后取下測試裝置,再改變Q表上的主調(diào)電容容量,重新使之諧振,電容讀數(shù)記為C3,此時(shí)可計(jì)算得到測試裝置的電容為CZ = C3 -C1
d. 計(jì)算被測樣品的介質(zhì)損耗系數(shù)
式中:CZ為測試裝置的電容(平板電容器二極片間距為樣品的厚度D2)
C0為測試電感的分布電容(參考LKI-1電感組的分布電容值)
其他應(yīng)用使用方法
使用本測試裝置和Q表配用,對(duì)絕緣材料以及其他高阻性能的薄材,例如:優(yōu)質(zhì)紙張、優(yōu)質(zhì)木材、粉壓片料等,進(jìn)行相對(duì)測量,其測試方法就非常簡便、實(shí)用,采取被測樣品和標(biāo)準(zhǔn)樣品相比較方法,就能靈敏地區(qū)別二者之間的輕微差別,例如含水量、配用原料變動(dòng)等等。
測試時(shí)先把標(biāo)準(zhǔn)樣品放入平板電容器,調(diào)節(jié)Q表主調(diào)電容,諧振后讀得Q值,再換上被測樣品,調(diào)節(jié)圓筒電位器,再諧振,看Q值變化,如Q值變化很小,說明標(biāo)準(zhǔn)樣品和被測樣品高頻損耗值*,反之說明二者性能有區(qū)別,被測樣品和標(biāo)準(zhǔn)樣品的配用原材料相差較大。
五. 注意事項(xiàng):
1. 測試裝置使用結(jié)束后,請(qǐng)及時(shí)關(guān)閉液晶顯示屏的電源,可延長電池的壽命。如果電池發(fā)出電壓低報(bào)警,應(yīng)及時(shí)更換電池保證測量的精度。電池更換位置位于液晶顯示屏的被面十字蓋冒下。用工具將十字蓋冒逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)約45°,既可取下十字蓋冒,更換電池。
2.本測試裝置是由精密機(jī)械構(gòu)件組成的測微設(shè)備,所以在使用和保存時(shí)要避免振動(dòng)和碰撞,要求在不含腐蝕氣體和干燥的環(huán)境中使用和保存,用戶不能自行拆裝,否則其工作性能就不能保證,如測試夾具受到碰撞,可以送生產(chǎn)廠家定期檢查,要檢測以下幾個(gè)指標(biāo):
平板電容器二極片平行度在0-5mm間連續(xù)不超過0.05 mm。
圓筒電容器的軸和軸同心度誤差不超過0.1mm。
數(shù)顯介質(zhì)損耗測試裝置與
配合使用補(bǔ)充說明
Q表新增加了介質(zhì)損耗系數(shù)tgδ的測試功能,特增加此數(shù)顯介質(zhì)損耗測試裝置有與之配合使用補(bǔ)充說明。 Q表的介質(zhì)損耗系數(shù)tgδ的測試功能省去了人工的計(jì)算,將大大地方便介質(zhì)損耗系數(shù)tgδ的測試。有關(guān)介質(zhì)損耗測試裝置的使用可參閱數(shù)顯介質(zhì)損耗測試裝置使用說明。
使用方法
介質(zhì)損耗測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容"兩個(gè)端子上。
b. 在電感端子上插上和測試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈(本公司 Q表配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時(shí)電感取250uH,15MHz時(shí)電感取1.5uH。
c. 先測出損耗測試裝置在測試狀態(tài)下的機(jī)構(gòu)電容CZ
a. 把被測樣品插入二極片之間,調(diào)節(jié)平板電容器,到二極片夾住樣品止(注意調(diào)節(jié)時(shí)要用測微桿,以免夾得過緊或過松)。 然后取出平板電容器中的樣品,
但要保持平板電容器間的間距不變。
b. 改變Q表上的主調(diào)電容容量,使Q表處于諧振點(diǎn)上;電容讀數(shù)記為C1。
c. 然后取下測試裝置,再改變Q表上的主調(diào)電容容量,重新使之諧振,電容讀數(shù)記為C3,此時(shí)可計(jì)算得到測試裝置的電容為CZ = C3 -C1
4.介質(zhì)損耗系數(shù)的測試
a. 重新把測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容"兩個(gè)端上。
把被測樣品插入二極片之間,改變Q表上的主調(diào)電容容量,使Q表處于諧振點(diǎn)上。然后按一次 Q表上的小數(shù)點(diǎn)(tgδ)鍵,在顯示屏上原電感顯示位置上將
顯示C0= x x x,此時(shí)可輸入分布電容值。分布電容為機(jī)構(gòu)電容CZ和電感分布電容C0(參考電感的技術(shù)說明)的和。分布電容值輸入的有效位為3位,0.1pF至99.9 pF,輸入時(shí)不需輸入小數(shù)點(diǎn),只需輸入3位有效數(shù)。例0.1pF,只需輸入
001;99.9pF,只需輸入999。
同時(shí),顯示屏上原C和Q顯示變化為C2和Q2。
b.取出平板電容器中的樣品,(保持平板電容器間的間距不變)這時(shí)Q表又失諧,再改變Q表上的主調(diào)電容容量,使Q表重新處于諧振點(diǎn)上。
c. 第二次按下 Q表上的小數(shù)點(diǎn)(tgδ)鍵,顯示屏上原C2和Q2顯示變化為C1和Q1,同時(shí)顯示介質(zhì)損耗系數(shù)tn =.x x x x x ,即完成測試。
5.出錯(cuò)提示,當(dāng)出現(xiàn)tn = NO 顯示時(shí),說明測試時(shí)出現(xiàn)了差錯(cuò),發(fā)生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的錯(cuò)誤情況。
如果你對(duì)云母薄片介電常數(shù)試驗(yàn)儀感興趣,想了解更詳細(xì)的產(chǎn)品信息,填寫下表直接與廠家聯(lián)系: |