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ASTM D149美標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)固體絕緣材料電壓擊穿的實(shí)驗(yàn)方法

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ASTMD149美標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)固體絕緣材料電壓擊穿的實(shí)驗(yàn)方法

商業(yè)電源頻率下固體電絕緣材料介電擊穿電壓和介電強(qiáng)度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

1。范圍*

1.1本試驗(yàn)方法包括在特定條件下測(cè)定工業(yè)功率頻率下固體絕緣材料介電強(qiáng)度的程序。

 

1.2除非另有規(guī)定,測(cè)試應(yīng)在60Hz。然而,這種測(cè)試方法適用于從25到800赫茲的任意頻率。在高于800 Hz的頻率下,介電加熱是一個(gè)潛在的問題。

 

1.3本試驗(yàn)方法旨在與任何ASTM標(biāo)準(zhǔn)或涉及本試驗(yàn)方法的其他文件一起使用。對(duì)該文檔的引用需要要使用的特定選項(xiàng)(見5.5)。

 

1.4適用于各種溫度,以及在任何合適的氣態(tài)或液體周圍介質(zhì)中。

1.5本試驗(yàn)方法并非用于測(cè)量在試驗(yàn)條件下為流體的材料的介電強(qiáng)度。

 

1.6本試驗(yàn)方法不適用于測(cè)定固有介電強(qiáng)度、直流電壓介電強(qiáng)度或電應(yīng)力下的熱失效(參見試驗(yàn)方法D3151)。

 

1.7這種試驗(yàn)方法常用于通過測(cè)試試樣的厚度(穿孔)確定介電擊穿電壓。它也適用于確定固體樣品與氣體或液體周圍的介質(zhì)擊穿電壓介質(zhì)(閃絡(luò))。通過添加修改部分12的指令,該測(cè)試方法也適合用于驗(yàn)證測(cè)試。

 

1.8這種測(cè)試方法與IEC出版物243-1相似。該方法的所有步驟都包含在IEC 243-1中。這種方法和IEC 243-1之間的差異主要是社論。

 

1.9本標(biāo)準(zhǔn)并不旨在解決與使用有關(guān)的所有安全問題,如果有的話。本標(biāo)準(zhǔn)的使用者有責(zé)任建立適當(dāng)?shù)陌踩徒】底龇?,并在使用前確定管制限制的適用性。具體危險(xiǎn)陳述在第7節(jié)中給出。

也見6.4.1。

ASTMD149美標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)固體絕緣材料電壓擊穿的實(shí)驗(yàn)方法(三)

3.1定義:

 

3.1.1介電擊穿電壓(電擊穿電壓),n-在位于兩個(gè)電極之間的電絕緣材料中,在規(guī)定條件下發(fā)生介電擊穿的電位差。(也見附錄X1)。

 

3.1.1.1討論術(shù)語電介質(zhì)擊穿電壓有時(shí)被縮短為“擊穿電壓”。

 

3.1.2介電失效(被測(cè)試),n-通過被測(cè)試的介質(zhì)中的電導(dǎo)增加來證明的事件,該電導(dǎo)增加限制了可維持的電場(chǎng)。

 

3.1.3介電強(qiáng)度,n-在特定試驗(yàn)條件下絕緣材料發(fā)生介電破壞的電壓梯度。

3.1.4電強(qiáng)度,n見介電強(qiáng)度。

4.1討論中,“電強(qiáng)度”幾乎是普遍使用的。

3.1.5閃絡(luò),n-在電絕緣表面或周圍介質(zhì)中的破壞性放電,這可能或可能不會(huì)對(duì)絕緣造成yongjiu性損壞。

 

3.1.6關(guān)于固體絕緣材料的其他術(shù)語的定義,參見術(shù)語D1711。

ASTMD149美標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)固體絕緣材料電壓擊穿的實(shí)驗(yàn)方法(四)

4。試驗(yàn)方法綜述

 

4.2zui常見的是,使用簡(jiǎn)單的測(cè)試電極在試樣的相對(duì)面上施加測(cè)試電壓。試樣的選擇是模塑或澆鑄,或者從平板或板上切割。其他電極和樣本配置也適合于用于適應(yīng)樣本材料的幾何形狀,或者用于模擬評(píng)估材料的特定應(yīng)用。

 

4.1的交變電壓在商業(yè)電源頻率(60赫茲,除非另有規(guī)定)應(yīng)用于測(cè)試樣品。在三種規(guī)定的電壓施加方法之一中,電壓從零或從遠(yuǎn)低于擊穿電壓的電平增加,直到測(cè)試試樣發(fā)生介電破壞。

 

5。意義與應(yīng)用

5.1對(duì)于存在電場(chǎng)的任何應(yīng)用,電絕緣材料的介電強(qiáng)度是感興趣的特性。在許多情況下,材料的介電強(qiáng)度將是在使用該裝置的設(shè)計(jì)中的決定因素。

 

5.2本文所述的試驗(yàn)適合于提供確定材料是否適合于給定應(yīng)用所需的部分信息,并且也適合于檢測(cè)由于加工變量、老化條件或ot而導(dǎo)致的與正常特性的變化或偏差。她的制造業(yè)或環(huán)境狀況。該試驗(yàn)方法可用于過程控制、驗(yàn)收或研究試驗(yàn)。

 

5.3在實(shí)際應(yīng)用中,用這種試驗(yàn)方法得到的結(jié)果很少能直接用于確定材料的介電行為。在大多數(shù)情況下,有必要通過與其他功能測(cè)試或其他材料或兩者的測(cè)試所得到的結(jié)果進(jìn)行比較來評(píng)估這些結(jié)果,以便估計(jì)它們對(duì)特定材料的重要性。

5.4第12節(jié)規(guī)定了三種電壓施加方法:方法A,短時(shí)間試驗(yàn);方法B,逐步試驗(yàn);方法C,緩慢上升率試驗(yàn)。方法A是zui常用的質(zhì)量控制試驗(yàn)。然而,較長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試,通常給出較低測(cè)試結(jié)果的方法B和C,當(dāng)不同材料相互比較時(shí),可能給出更有意義的結(jié)果。如果具有電機(jī)驅(qū)動(dòng)電壓控制的測(cè)試集可用,則慢上升速率測(cè)試比逐步測(cè)試更簡(jiǎn)單和更可取。從Methods B和C得到的結(jié)果是相互比較的。

5.5條規(guī)定使用本試驗(yàn)方法的文件也應(yīng)規(guī)定:

 

5.5.1電壓施加方法,

 

5.5.2電壓上升率,如果緩慢上升率法,5.5.3樣本選擇、制備和調(diào)節(jié),

 

5.5.4周圍介質(zhì)和溫度在測(cè)試過程中,

 

5.5.5電極,

 

5.5.6在可能的情況下,電流敏感元件的失效準(zhǔn)則,以及

 

5.5.7與所建議的程序的任何期望偏差。5.6如果文件中缺少5.5中所列的任何要求,則應(yīng)遵循關(guān)于幾個(gè)變量的建議。

 

5.7除非規(guī)定5.5中所列的項(xiàng)目,否則參照本試驗(yàn)方法進(jìn)行的試驗(yàn)不符合本試驗(yàn)方法。如果在測(cè)試期間不嚴(yán)格控制5.5中列出的項(xiàng)目,則可能無法獲得15.2和15.3中所述的精度。

5.8電流傳感元件的失效準(zhǔn)則(電流設(shè)置和響應(yīng)時(shí)間)的變化顯著地影響試驗(yàn)結(jié)果。

5.9附錄X1。對(duì)電介質(zhì)強(qiáng)度測(cè)試的意義進(jìn)行了更全面的討論。

 

ASTMD149美標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)固體絕緣材料電壓擊穿的實(shí)驗(yàn)方法(六)

6.1.3根據(jù)12.2,對(duì)可變低壓源的控制應(yīng)能夠平穩(wěn)、均勻地變化電源電壓和由此產(chǎn)生的測(cè)試電壓,并且沒有過沖或瞬變。在任何情況下,不允許峰值電壓超過所指示的RMS測(cè)試電壓的1.48倍。電動(dòng)機(jī)驅(qū)動(dòng)的控制用于短時(shí)間(見2.2.1)或緩慢上升率(參見2.2.3)測(cè)試。

6.1.4配備一個(gè)電路斷路器的電壓源,它將在三個(gè)周期內(nèi)運(yùn)行。該設(shè)備應(yīng)將電壓源設(shè)備與電源設(shè)備斷開,并保護(hù)其免受由于試樣擊穿導(dǎo)致測(cè)試設(shè)備過載而造成的過載。如果擊穿后電流延長(zhǎng),將導(dǎo)致測(cè)試樣品的不必要燃燒、電極的點(diǎn)蝕以及任何液體周圍介質(zhì)的污染。

 

6.1.5對(duì)于斷路裝置來說,在升壓變壓器次級(jí)中具有可調(diào)電流感測(cè)元件很重要,以便允許根據(jù)樣本特性進(jìn)行調(diào)整并布置成感測(cè)樣本電流。設(shè)置感測(cè)元件以響應(yīng)如12.3所定義的指示試樣擊穿的電流。

61.6當(dāng)前的設(shè)置可能對(duì)測(cè)試結(jié)果有顯著的影響。設(shè)置得足夠高,以便瞬變(例如局部放電)不會(huì)使斷路器跳閘,但不要太高,以致于試樣在擊穿時(shí)發(fā)生過度燃燒,從而導(dǎo)致電極損壞。*電流設(shè)置對(duì)于所有樣品都不相同,并且取決于材料的預(yù)期用途和測(cè)試的目的,通常希望在一個(gè)以上的電流設(shè)置下對(duì)給定樣品進(jìn)行測(cè)試。電極面積可能對(duì)電流設(shè)置的選擇有顯著影響。

61.7有可能試樣電流傳感元件將在升壓變壓器的初級(jí)。根據(jù)試樣電流校準(zhǔn)電流檢測(cè)刻度盤。

 

61.8在設(shè)定當(dāng)前控制的反應(yīng)中進(jìn)行運(yùn)動(dòng)護(hù)理。如果控制設(shè)置得太高,則電路在發(fā)生故障時(shí)不會(huì)響應(yīng);如果設(shè)置得太低,則有可能對(duì)泄漏電流、電容電流或局部放電(電暈)電流作出響應(yīng),或者當(dāng)傳感元件位于初級(jí)時(shí),對(duì)升壓變壓器作出響應(yīng)。磁化電流

 

6.2電壓測(cè)量-必須提供電壓表來測(cè)量RMS測(cè)試電壓。如果使用峰值讀取伏特計(jì),則將讀數(shù)除以2,以得到均方根值。電壓測(cè)量電路的總誤差不應(yīng)超過測(cè)量值的5%。此外,電壓表的響應(yīng)時(shí)間應(yīng)使其在任何上升速率下其時(shí)間滯后不超過滿刻度的1%。

6.2.1使用與測(cè)試變壓器上的樣品電極或單獨(dú)的電壓表繞組連接的電壓表或電位互感器測(cè)量電壓,該電壓表或電位互感器不受升壓變壓器負(fù)載的影響。

 

6.2.2在擊穿后將zui大施加的測(cè)試電壓的讀數(shù)保持在電壓表上,以便能夠準(zhǔn)確地讀出和記錄擊穿電壓。

ASTMD149美標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)固體絕緣材料電壓擊穿的實(shí)驗(yàn)方法(七)

6.3電極-對(duì)于給定的樣品結(jié)構(gòu),介電擊穿電壓可能根據(jù)測(cè)試電極的幾何形狀和位置而顯著變化。由于這個(gè)原因,在規(guī)定這種試驗(yàn)方法時(shí)描述要使用的電極和在報(bào)告中描述它們很重要。

 

6.3.1表1中列出的電極之一應(yīng)參照本試驗(yàn)方法的文件規(guī)定。如果未電極,則從表1中選擇一個(gè)適用的電極,或者當(dāng)由于被測(cè)試材料的性質(zhì)或結(jié)構(gòu)而無法使用標(biāo)準(zhǔn)電極時(shí),使用雙方都可接受的其他電極。一些特殊的電極。在任何情況下,電極必須在報(bào)告中描述。

 

6.3.2表1的類型1至4以及類型6的電極應(yīng)在電極的整個(gè)平坦區(qū)域內(nèi)與測(cè)試樣品接觸。

 

6.3.3使用7型電極測(cè)試的試樣應(yīng)為在測(cè)試期間,試樣的所有部分都在電極邊緣內(nèi)且距離電極邊緣不少于15mm的大小。在大多數(shù)情況下,使用7型電極的測(cè)試是用電極表面的平面進(jìn)行的。

 

垂直位置。用水平電極進(jìn)行的試驗(yàn)不應(yīng)與用垂直電極進(jìn)行的試驗(yàn)直接比較,特別是當(dāng)在液體周圍介質(zhì)中進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)。

6.3.6每當(dāng)電極的大小或形狀不同時(shí),確保存在zui低應(yīng)力集中(通常尺寸較大、半徑zui大)的電極處于接地電位。

 

6.3.7在一些特殊情況下,使用液態(tài)金屬電極、箔電極、金屬丸、水或?qū)щ娡繉与姌O。必須認(rèn)識(shí)到,這些結(jié)果可能與其他類型的電極得到的結(jié)果大不相同。

 

6.3.8由于電極對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的影響,經(jīng)常可以通過使用多種類型的電極進(jìn)行測(cè)試來獲得關(guān)于材料(或一組材料)的介電性能的附加信息。這項(xiàng)技術(shù)對(duì)于研究測(cè)試具有特別的價(jià)值。

 

ASTMD149美標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)固體絕緣材料電壓擊穿的實(shí)驗(yàn)方法(八)

6.3.3使用7型電極測(cè)試的樣品應(yīng)具有這樣的尺寸,即在測(cè)試期間,樣品的所有部分都在電極邊緣內(nèi),并且離電極邊緣不少于15mm。在大多數(shù)情況下,使用7型電極的測(cè)試是在垂直位置上用電極表面的平面來進(jìn)行的。用水平電極進(jìn)行的試驗(yàn)不應(yīng)與用垂直電極進(jìn)行的試驗(yàn)直接比較,特別是當(dāng)在液體周圍介質(zhì)中進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)。

 

6.3.4保持電極表面清潔光滑,避免因先前試驗(yàn)而凸出的不規(guī)則現(xiàn)象。如果出現(xiàn)凹凸,必須予以去除。

6.3.6每當(dāng)電極的大小或形狀不同時(shí),確保存在zui低應(yīng)力集中(通常尺寸較大、半徑zui大)的電極處于接地電位。

 

6.3.7在一些特殊情況下,使用液態(tài)金屬電極、箔電極、金屬丸、水或?qū)щ娡繉与姌O。必須認(rèn)識(shí)到,這些結(jié)果可能與其他類型的電極得到的結(jié)果大不相同。

 

6.3.5重要的是,電極的初始制造和隨后的再表面處理應(yīng)保持電極及其邊緣的特定形狀和光潔度。電極表面的平整度和表面光潔度必須使電極的整個(gè)區(qū)域與測(cè)試樣品緊密接觸。表面光潔度在測(cè)試極薄的材料時(shí)尤其重要,因?yàn)楸砻婀鉂嵍炔划?dāng)會(huì)造成物理損傷。ED電極當(dāng)重鋪表面時(shí),不要改變電極面與任何的邊緣半徑之間的過渡。

6.3.8由于電極對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的影響,經(jīng)??梢酝ㄟ^使用多種類型的電極進(jìn)行測(cè)試來獲得關(guān)于材料(或一組材料)的介電性能的附加信息。這項(xiàng)技術(shù)對(duì)于研究測(cè)試具有特別的價(jià)值。

ASTMD149美標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)固體絕緣材料電壓擊穿的實(shí)驗(yàn)方法(九)

6.4環(huán)境介質(zhì)-調(diào)用這個(gè)測(cè)試方法的文檔需要環(huán)境介質(zhì)和測(cè)試溫度。由于必須避免閃絡(luò),并且在擊穿之前模擬局部放電的影響,即使對(duì)于短時(shí)間試驗(yàn),在絕緣液體中進(jìn)行試驗(yàn)通常也是優(yōu)選的,有時(shí)是必要的(見6.4.1)。那些在空氣中獲得的。絕緣液體的性質(zhì)和以前使用的程度是影響測(cè)試值的因素。在某些情況下,空氣中的測(cè)試將需要過大的試樣或?qū)е聡?yán)重的表面放電和燃燒。

 

故障。一些用于空氣測(cè)試的電極系統(tǒng)利用電極周圍的壓力墊圈來防止閃絡(luò)。電極周圍的墊圈或密封件的材料有可能影響擊穿值。

 

6.4.1在絕緣油中進(jìn)行試驗(yàn)時(shí),應(yīng)提供足夠尺寸的油浴。(警告-在高于10kV的電壓下測(cè)試時(shí)不建議使用玻璃容器,因?yàn)樵趽舸r(shí)釋放的能量可能足以擊碎容器。)金屬浴缸必須接地。

 

建議使用符合D3247、I或II規(guī)格要求的礦物油。它應(yīng)具有至少26 kV的測(cè)試方法D87所確定的介質(zhì)擊穿電壓。如果的話,其它介電流體適合用作周圍介質(zhì)。這些液體包括但不限于,用于變壓器、斷路器、電容器或電纜中的硅油流體和其他液體。

 

4.4.1.1絕緣油的質(zhì)量有可能對(duì)試驗(yàn)結(jié)果有明顯的影響。除了上述介質(zhì)擊穿電壓之外,當(dāng)非常薄的試樣(25μm(1密耳)或更小)被測(cè)試時(shí),顆粒污染物尤為重要。根據(jù)油的性質(zhì)和所測(cè)試材料的性質(zhì),其他性質(zhì),包括溶解氣體含量、水含量和油的耗散系數(shù)也有可能影響結(jié)果。頻繁更換機(jī)油,或者使用過濾器和其他修復(fù)設(shè)備,對(duì)于zui小化機(jī)油質(zhì)量的變化對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的影響是重要的。

 

1.4.1.2使用具有不同電性能的液體獲得的擊穿值常常是不可比的。(見X1.4)。

 

7)如果要在室溫以外的溫度下進(jìn)行試驗(yàn),則浴缸必須配備有加熱或冷卻液體的裝置,以及確保溫度均勻的裝置。在一些情況下,小浴缸可以放在烤箱里(見4.4.2),以便提供溫度控制。如果提供流體的強(qiáng)制循環(huán),必須注意防止氣泡被攪入流體中。除非另有說明,溫度應(yīng)保持在電極規(guī)定的試驗(yàn)溫度的65°C以內(nèi)。在許多情況下,規(guī)定要在絕緣油中測(cè)試的樣品必須事先用油浸漬,而不能在測(cè)試前從油中除去(參見實(shí)踐D2413)。對(duì)于這樣的材料,浴槽必須具有這樣的設(shè)計(jì),即在測(cè)試之前不需要將樣品暴露于空氣中。

 

64.2如果在空氣中的試驗(yàn)是在環(huán)境溫度或濕度以外進(jìn)行的,則必須為試驗(yàn)提供烘箱或控制濕度室。烤箱會(huì)議D5423規(guī)范的要求以及提供用于引入測(cè)試電壓的裝置將適用于僅控制溫度的情況。

 

6.4.3在除空氣之外的氣體中進(jìn)行試驗(yàn)通常需要使用室,這些室可以抽空并填充試驗(yàn)氣體,通常在一些受控的壓力下。

設(shè)計(jì)D149-094將根據(jù)所要進(jìn)行的試驗(yàn)程序的性質(zhì)來確定這樣的艙室。

 

ASTMD149美標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)固體絕緣材料電壓擊穿的實(shí)驗(yàn)方法(十)

6.5試驗(yàn)室-進(jìn)行試驗(yàn)的試驗(yàn)室或區(qū)域應(yīng)具有足以容納試驗(yàn)設(shè)備的尺寸,并應(yīng)設(shè)置聯(lián)鎖以防止與任何帶電部件意外接觸。電壓源、測(cè)量設(shè)備、浴缸或烤箱和電極的多種不同的物理布置是可能的,但重要的是:(1)所有提供通向有帶電部件的空間的門或門都互鎖以切斷電壓源。(2)間隙足夠大,使得電極和試樣區(qū)域內(nèi)的場(chǎng)不會(huì)變形,除了試驗(yàn)電極之間不會(huì)發(fā)生閃絡(luò)和局部放電(電暈);和(3)試驗(yàn)之間的試樣插入和替換非常簡(jiǎn)單。

 

盡可能方便。在測(cè)試過程中對(duì)電極和測(cè)試樣品的目視觀察是經(jīng)常需要的。

 

7。危害

 

7.1警告,可能有致命的電壓將在本次試驗(yàn)中出現(xiàn)。為了安全操作,必須正確地設(shè)計(jì)和安裝測(cè)試設(shè)備和所有與之電氣連接的相關(guān)設(shè)備。在測(cè)試過程中牢固地研磨任何人可能接觸的所有導(dǎo)電部件。提供在任何測(cè)試完成時(shí)使用的方法,以將下列任何一種情況下的部分接地:(a)在測(cè)試過程中處于高電壓;(b)在測(cè)試過程中有可能獲得誘導(dǎo)電荷;(c)即使在斷開連接后仍有可能保持電荷;電壓源。充分地指導(dǎo)所有操作工正確地進(jìn)行試驗(yàn)。制作高壓時(shí)測(cè)試,特別是在壓縮氣體或油中,有可能在擊穿時(shí)釋放的能量將足以導(dǎo)致測(cè)試室的火災(zāi)、爆炸或破裂。設(shè)計(jì)測(cè)試設(shè)備、測(cè)試室和測(cè)試樣本,以減少此類事件發(fā)生的可能性,并消除人身傷害的可能性。

 

7.2警告臭氧是在高濃度的生理上有害氣體。暴露限值是由政府機(jī)構(gòu)制定的,通常是根據(jù)美國(guó)政府工業(yè)衛(wèi)生學(xué)家的建議制定的。8的臭氧很可能存在于任何足以引起空氣中部分或*排放的電壓中。含氧大氣。臭氧具有*的氣味,zui初在低濃度時(shí)可以識(shí)別,但持續(xù)吸入臭氧可導(dǎo)致對(duì)臭氧氣味的暫時(shí)喪失敏感性。因此,無論何時(shí)臭氧持續(xù)存在或當(dāng)臭氧生成條件繼續(xù)時(shí)。使用適當(dāng)?shù)姆椒?,如排氣口,以減少臭氧濃度在工作區(qū)域內(nèi)可接受的水平。

 

8。抽樣

 

8.1對(duì)被測(cè)試材料的詳細(xì)抽樣程序需要在該材料的規(guī)范中進(jìn)行定義。

 

8.2為質(zhì)量控制目的的取樣程序應(yīng)規(guī)定收集足夠的樣品以估計(jì)被檢查批次的平均質(zhì)量和可變性,并規(guī)定從取樣時(shí)起對(duì)樣品進(jìn)行適當(dāng)保護(hù),直至制備測(cè)試樣品;在實(shí)驗(yàn)室或其他試驗(yàn)區(qū)開始。

 

8.3為了大多數(shù)測(cè)試的目的,從材料中沒有明顯缺陷或不連續(xù)性的區(qū)域取樣。避免外層幾層卷材、包裝紙的頂部幾層或緊挨著紙張邊緣的材料;滾動(dòng),除非存在或接近缺陷或不連續(xù)性在材料的研究中是有意義的。

 

8.4樣品應(yīng)大到足以允許制造特殊材料所需的許多單獨(dú)測(cè)試

9。試樣

 

9.1準(zhǔn)備和處理:

 

91.1根據(jù)從第8節(jié)收集的樣品制備樣品。

 

9.1.2在使用平面電極時(shí),與電極接觸的試樣的表面應(yīng)盡可能為光滑的平行平面,而不需要實(shí)際表面加工。

 

91.3試樣應(yīng)具有足夠的尺寸以防止在試驗(yàn)條件下的閃絡(luò)。對(duì)于薄材料來說,使用足夠大的樣本來允許對(duì)單個(gè)試件進(jìn)行多次測(cè)試通常是很方便的。

 

9.1.4對(duì)于較厚的材料(通常超過2毫米厚),擊穿強(qiáng)度可能足夠高,以至于在擊穿之前會(huì)發(fā)生閃絡(luò)或強(qiáng)烈的表面局部放電(電暈)。適用于防止閃絡(luò)或減少局部放電(電暈)的技術(shù)包括:

 

91.4.1在試驗(yàn)過程中將試樣浸入絕緣油中。見X1.4.7對(duì)周圍介質(zhì)影響擊穿的因素。對(duì)于未干燥和浸漬油的樣品,以及根據(jù)實(shí)踐準(zhǔn)備的樣品,這通常是必要的。

 

例如,D2413。(見6.4)

 

91.4.2在試樣的一個(gè)或兩個(gè)表面上加工一個(gè)凹槽或一個(gè)平底孔,以減小試驗(yàn)厚度。如果使用不同的電極(如表1的類型6),并且只有一個(gè)表面需要加工,則兩個(gè)電極中的較大電極應(yīng)與加工表面接觸。在加工試樣時(shí),必須注意不要污染或機(jī)械損壞它們。

 

91.4.3在電極周圍施加密封或護(hù)罩,與試樣接觸以減少閃絡(luò)的傾向。

9.1.5非平板形式的材料應(yīng)使用適合于材料和樣品幾何形狀的樣品(和電極)進(jìn)行測(cè)試。重要的是,對(duì)于這些材料,試樣和電極都在材料規(guī)范中定義。

91.6無論材料的形式,如果是其他測(cè)試進(jìn)行表面到表面的穿刺強(qiáng)度,在材料規(guī)范中定義試樣和電極。

9.2在幾乎所有的情況下,試樣的實(shí)際厚度是重要的。除非另有說明,在測(cè)試區(qū)域附近立即測(cè)量厚度。應(yīng)采用適當(dāng)?shù)脑囼?yàn)方法,在室溫(25~6°C)下進(jìn)行測(cè)量。

 

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